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测量厚度从 1nm 到 10mm 的膜厚测量系统 您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,F20适用于各种应用。 我们能测量什么 薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、...
膜厚范围 1nm-35um 测试时间 优于1秒/次 光斑尺寸 3-5mm 探测器 CCD/InGaAS 光源类型 氘灯+卤钨灯/进口卤钨灯 测量精度重复性 0.02nm 光源寿命 50000小时 AD转换器 16bit 接口类型 USB 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数...
光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数,非常适合日常已知膜系膜堆测量。这款光学薄膜测厚仪具有较长工作距离,工作距离可调,超大样品台,可选光源等特点。 详…
日本大冢膜厚量测仪・光学材料检查设备EF-300 苏州市新杉本电子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 苏州新杉本直销/联系人陈小姐15250013623 仟渔旺铺 https://40828.qianyuwang.com/ 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生...
光学薄膜测厚仪 2024-05-11 产地: 武汉市东湖高新区华工科技园创智大厦B座4楼 所在地区: 湖北武汉市 有效期还剩33天举报该信息 产品详细 一、概述 IRE-200膜厚测试仪是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。
光学膜厚仪(SpectraThick series)的特点是非接触, 非破坏方式测量,无需样品的前处理。光学膜厚仪使用的是白光干涉的原理,从而对样品表面的膜层进行测量,基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗 什么是光学膜厚仪 膜厚仪 膜厚仪膜厚仪
然后,打开光学膜厚仪的电源,并根据实际需要设置好波长、角度等参数。这些参数的设置对于测量结果至关重要,因此需要仔细核对并确认无误。在测量前,还需要调整仪器的光线,确保光线从样品表面垂直入射,并保持其稳定。这一步对于获取准确的干涉图像和测量结果至关重要。接下来,就可以开始测量了。通过观察干涉图像,...